Entwicklung von Automatisierungsaufgaben in der Halbleiterfertigung

Ziel dieses Projektes war die Entwicklung von Automatisierungsaufgaben in der Halbleiterfertigung mit Fokus auf Wafer Test Systemen.

Die Aufgabe der entwickelten Lösungen beinhaltete die Verwaltung, Archivierung, Auswertung und Bereitstellung von Testergebnissen sowie das Broadcasting von Testereignissen und Events. Die erhobenen Daten wurden auf Wafer oder System-Ebene im Rahmen von mehreren Chips bzw. Systemen auf einem Wafer bereitgestellt, woraufhin die Ereignisse und Bearbeitungslogiken automatisiert angestoßen wurden. Diese Daten und Testergebnisse wurden von verschiedenen Tolls, für diverse Produkte und Kunden bearbeitet sowie modelliert und ausgewertet. Hierfür mussten die MEs, ERP, Lagerverwaltung sowie die Kundenverwaltung synchronisiert sowie die Daten und Prozesse angestoßen werden. Dazu wurden Dienste und Services implementiert, die in mehreren Services auf diversen Servern verteilt sind. Mithilfe von in .Net C# wurden die entwickelten Services realisiert, die wiederum verschiedene Dienste bereitstellen, Aufgaben, Jobs und Workflows anstoßen und daraufhin systematisch abgearbeitet werden. Basis ist eine einzelne Logik, die die anforderungsspezifischen Automatisierungsabläufe enthalten, wobei die entwickelten Services die Testergebnisse verwalten können und an jedes betroffene System automatisiert weitergeleitet werden.